X線部門委員会 これまでの連載講座と総説
連 載 講 座
1998年：「X線応力測定法の基礎と最近の発展」
1.
X線応力測定の基礎，後藤徹，大谷眞一，Vol.47, No.11, pp.1188-1194.
2.
ミクロ応力とマクロ応力，田中啓介，秋庭義明，Vol.47, No.12, pp.1301-1307.
3.
表面応力・集合組織材，英崇夫，Vol.48, No.1, pp.89-95.
4.
X線回折法の実機への適用，林眞琴，井上靖雄，Vol.48, No.2, pp.198-204.
5.
新素材への適用，鈴木賢治，日下一也，Vol.48, No.3, pp.308-314.
6.
新しい測定技術，吉岡靖夫，林眞琴，佐々木敏彦，Vol.48, No.4, pp.410-415.
2005年：「新しい光源による応力評価」
1.
高エネルギー放射光による内部応力分布測定，鈴木賢治，田中啓介，Vol.54, No.5, pp.553-558.
2.
シンクロトロン放射光による薄膜および微小部の応力測定，英崇夫，秋田貢一，Vol.54, No.6, pp.642-647.
3.
中性子回折法による応力測定，秋庭義明，Vol.54, No.7, pp.785-790.
4.
中性子応力測定の実機への適用，大城戸忍，盛合敦，Vol.54, No.8, pp.895-900.
2009年：「回折法による材料評価の新しい展開」
1.
溶接残留応力とX線残留応力測定，栗村隆之，秋庭義明，Vol.58, No.10, pp.873-878.
2.
高エネルギー放射光による応力測定，菖蒲敬久，柴野純一，Vol.58, No.11, pp.948-954.
3.
中性子応力測定の新展開，鈴木裕士，秋田貢一，Vol.58, No.12, pp.1051-1057.
2015年：「2次元検出器を用いた応力測定法の現状と今後の展開」
1.
2次元検出器を用いた応力測定法の現状，坂井田喜久，Vol.64, No.7, pp.599-605.
2.
放射光を利用した2次元検出器による応力評価の最前線，鈴木賢治，菖蒲敬久，Vol.64, No.8, pp.675-681.
3.
2次元検出器を用いた応力測定法の課題と展望，坂井田喜久，栗村隆之，Vol.64, No.9, pp.745-750.
2020年：「X線回折ラインプロファイル解析による微視組織評価法」
1.
ラインプロファイル解析の概要，熊谷 正芳, 横山 亮一，Vol.69， No.3， pp.277-283.
2.
放射光を用いたラインプロファイル解析，菖蒲 敬久, 城 鮎美, 吉田 裕，Vol.69， No.4 ，pp.343-347.
3.
ラインプロファイル解析の利用例，西田 真之, 橋本 匡史, 熊谷 正芳，Vol.69， Vol.5， pp.421-426.
2024年：「溶接または高分子機械部品設計における残留応力評価の新展開」
1.
溶接部と高分子材料の残留応力測定に寄せる期待，鈴木 賢治, 清水 憲一，Vol.73， No.12， pp. 955-961
2.
溶接部の残留応力に関する最新研究，鈴木 賢治，Vol.74, No.1, pp.68-73
3.
高分子材料の残留応力に関する最新研究，秋庭 義明, 西田 真之, 清水 憲一，Vol.74, No.2, pp.151-157
総 説
2003年：
放射光による応力評価，田中 啓介, 秋庭 義明，Vol.52, No.12, pp.1435-1444
2017年：
2次元検出器を用いたcos α法によるX線応力測定 その１ 測定の基礎，田中 啓介，Vol.66, No.7, pp.470-478
2次元検出器を用いたcos α法によるX線応力測定 その２ 測定の実際と応用，田中 啓介，Vol.66, No.7, pp.479-487
2022年：
多相材料・複合材料の内部応力の結晶回折法による評価，田中 啓介，Vol.71, No.4, pp.338-346
2024年：
シンクロトロン放射光による応力評価とその期待，鈴木 賢治，Vol.74, No.4, pp.224-231
追記：2025年5月20日